Limite de detecção: μg/L~μg/mL Faixa de comprimento de onda: 165nm-1100nm; tipo de instrumento: leitura direta de espectro total; detector: Detector de estado sólido CMOS.
Função: Analisar a análise qualitativa e quantitativa de 68 elementos da tabela periódica. A análise quantitativa pode analisar amostras na faixa de concentração de 0,01-100 μg/mL (ppm), com uma precisão de até 0,01 ppm, e pode realizar simultaneamente uma injeção de amostra Vários elementos na amostra são detectados.
Princípio: Depois que a solução da amostra evapora e gaseifica, todos os elementos existem na forma de átomos gasosos. Sob a excitação do plasma, os átomos gasosos retornam do estado excitado ao estado fundamental para gerar radiação. Como os níveis de energia dos diferentes elementos são diferentes, eles têm suas próprias linhas de radiação características, ICP O instrumento mede o comprimento de onda e a intensidade de cada linha no espectro para determinar o tipo e a concentração do elemento, de modo a realizar análises qualitativas e quantitativas.
2. XRD
Nome em inglês: X-Ray Powder Diffractometer Modelo: D2 PHASER Fabricante: Bruker Origem: Alemanha
Indicadores técnicos: Goniômetro vertical Theta / Theta; 2Faixa de ângulo Theta: -3~160°; O ângulo de passo mínimo é de 0,002; Sem necessidade de luz; alvo de Cr/Co/Cu, tubo de luz de tamanho padrão; Não há necessidade de um computador externo, projeto integrado de controle de instrumentos e sistema de aquisição de dados; Não é necessário resfriamento externo com água; Não é necessária pré-calibração; Potência do gerador 300W, tensão da fonte de alimentação 90-250V, 50-60Hz, plug and play.
Função: Usar o princípio da difração para determinar a estrutura cristalina e o tamanho do grão do pó de acordo com a posição do pico de difração e a largura da meia altura. Ao comparar com a biblioteca de cartões padrão, a estrutura e a composição da amostra desconhecida podem ser inferidas, e a análise de fase pode ser realizada com precisão. Análise qualitativa, análise quantitativa.
Princípio: Para materiais cristalinos, quando o cristal a ser medido está em um ângulo diferente do raio X incidente, o plano do cristal que encontra a difração de Bragg será detectado. Ele é refletido no espectro de XRD como picos de difração com diferentes intensidades de difração. De acordo com a medida, os picos de difração podem ser usados para inferir a estrutura dos cristais. Ao mesmo tempo, as posições dos picos de difração também são diferentes devido à diferença entre os planos de cristal dos cristais compostos por elementos diferentes. Os meios de detecção de elementos correspondentes podem ser comparados com cristais conhecidos. Para materiais amorfos, como não há ordem de longo alcance na estrutura do cristal, mas ordem de curto alcance em alguns átomos, o padrão XRD mostra alguns picos de dispersão difusa.
3. SEM+EDX
Nome em inglês: Electron Microscope Modelo: Pro X Fabricante: PHENOM Origem: Holanda
Indicadores técnicos: Microscópio óptico: ampliação de 20 a 135 vezes; microscópio eletrônico: 150.000 vezes; Detector: Detector de elétrons retroespalhados de quatro seções de alta sensibilidade; material de filamento: Filamento CeB6 de 1.500 horas; resolução de imagem de elétrons retroespalhados 8nm (10 kV), resolução de imagem de elétrons secundários 8nm (10 kV); tensão de aceleração: 5 kV-15 kV continuamente ajustável; tempo de vácuo: menos de 15 segundos; faixa de elementos de detecção: B (5)-Am (95) elementos; detector de espectro de energia: detector de desvio de silício (SDD); método de resfriamento: resfriamento elétrico sem efeito Peltier de nitrogênio líquido; resolução de energia: <123 eV (Mn Kaα); área ativa do cristal do detector: 25 mm2
Função: Você pode observar diretamente a morfologia da superfície da amostra sem pulverizar ouro, sem destruir a estrutura da superfície da amostra e, ao mesmo tempo, obter informações qualitativas e quantitativas sobre os elementos da superfície da amostra.
4. FTIR
Nome em inglês: Fourier Transform Infrared Spectrometer Modelo: Tensor 27 Fabricante: Bruker Origem: Alemanha
Indicadores técnicos: Faixa de número de ondas: 4000-400 cm-1 Resolução: 1 cm-1; a relação S/N é melhor do que 32.000:1 (teste de 1 minuto); interferômetro ROCKSOLID, excelente desempenho sísmico, livre de manutenção; pode ser combinado com microscópio infravermelho, perda de peso térmica, cromatografia de gás, parque de vibração de duas cores, etc.; sistema operacional: OPUS/IR
Função: Usado para medir os espectros de infravermelho de amostras sólidas, gasosas e líquidas e processos de reação in situ, de modo a obter diferentes formas de ligação e interações na amostra e, com base nisso, realizar a identificação da composição do composto, a análise da estrutura do composto e a química da amostra Análise cinética da reação.
5. FL
Nome em inglês: Fluorescence Spectroscopy (Espectroscopia de fluorescência) Modelo: F7000 Fabricante: Hitachi Origem: Japão
Indicadores técnicos: Faixa de comprimento de onda de emissão de excitação: 200-900 nm; sensibilidade: S/N ＞800 (RMS); S/N ＞250 (PP); o pico Raman da água é usado, o comprimento de onda de excitação é de 350 nm, a largura de banda espectral é de 5 nm, o tempo de resposta é de 2 s; Resolução: 1,0 nm; precisão do comprimento de onda: 1 nm; velocidade de varredura do comprimento de onda: 30/60/240/1200/2400/12000/3000/6000 nm/min
Função: Medir o espectro de excitação de fluorescência, o espectro de emissão de fluorescência, o espectro tridimensional etc. de materiais luminescentes. Ele também pode realizar o teste de varredura de tempo tridimensional e o teste de tempo de vida de fluorescência.
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