Nome inglese: Inductively Coupled Plasma-Atomic Emission Spectrometer (Spettrometro di emissione atomica con plasma ad accoppiamento induttivo) Modello: Prodigy 7 Produttore: Leeman Company Origine: Stati Uniti
Limite di rilevamento: μg/L~μg/mL Intervallo di lunghezza d'onda: 165nm-1100nm; Tipo di strumento: lettura diretta a spettro completo; Rivelatore: Rivelatore a stato solido CMOS.
Funzione: Analisi qualitativa e quantitativa di 68 elementi della tavola periodica. L'analisi quantitativa può analizzare campioni nell'intervallo di concentrazione 0,01-100 μg/mL (ppm), con una precisione fino a 0,01 ppm, e può eseguire simultaneamente un'iniezione di campione Vengono rilevati più elementi nel campione.
Principio: Dopo l'evaporazione e la gassificazione della soluzione campione, gli elementi esistono tutti sotto forma di atomi gassosi. Sotto l'eccitazione del plasma, gli atomi gassosi tornano dallo stato eccitato allo stato fondamentale per generare radiazioni. Poiché i livelli energetici dei diversi elementi sono diversi, essi hanno le loro linee di radiazione caratteristiche, ICP Lo strumento misura la lunghezza d'onda e l'intensità di ciascuna linea nello spettro per determinare il tipo e la concentrazione dell'elemento, in modo da eseguire analisi qualitative e quantitative.
2. XRD
Nome inglese: Diffrattometro per polveri a raggi X Modello: FASER D2 Produttore: Bruker Origine: Germania
Indicatori tecnici: Goniometro verticale Theta / Theta; 2Gamma dell'angolo di inclinazione: -3~160°; L'angolo di passo minimo è 0,002; Non è necessaria la luce; bersaglio Cr/Co/Cu, tubo luminoso di dimensioni standard; Non è necessario un computer esterno, progettazione integrata del sistema di controllo dello strumento e di acquisizione dei dati; Non è necessario un raffreddamento ad acqua esterno; Non è necessaria una pre-calibrazione; Potenza del generatore 300W, tensione di alimentazione 90-250V, 50-60Hz, plug and play.
Funzione: Utilizza il principio della diffrazione per determinare la struttura cristallina e la granulometria della polvere in base alla posizione del picco di diffrazione e alla larghezza di metà altezza. Grazie al confronto con la libreria di carte standard, è possibile dedurre la struttura e la composizione del campione sconosciuto ed eseguire con precisione l'analisi di fase. Analisi qualitativa, analisi quantitativa.
Principio: Per i materiali cristallini, quando il cristallo da misurare si trova ad un angolo diverso rispetto ai raggi X incidenti, verrà rilevato il piano del cristallo che incontra la diffrazione di Bragg. Questo si riflette nello spettro XRD sotto forma di picchi di diffrazione con diverse intensità di diffrazione. In base alle misure effettuate, i picchi di diffrazione possono essere utilizzati per dedurre la struttura dei cristalli. Allo stesso tempo, anche le posizioni dei picchi di diffrazione sono diverse a causa della differenza tra i piani cristallini di cristalli composti da elementi diversi. I mezzi di rilevamento degli elementi corrispondenti possono essere confrontati con cristalli noti. Per i materiali amorfi, poiché non esiste un ordine a lungo raggio nella struttura cristallina, ma un ordine a corto raggio in pochi atomi, il modello XRD mostra alcuni picchi di diffusione.
3. SEM+EDX
Nome inglese: Electron Microscope Modello: Pro X Produttore: PHENOM Origine: Paesi Bassi
Indicatori tecnici: Microscopio ottico: ingrandimento 20-135 volte; Microscopio elettronico: 150.000 volte; Rivelatore: Rivelatore di elettroni retrodiffusi a quattro sezioni ad alta sensibilità; Materiale del filamento: filamento CeB6 da 1.500 ore; risoluzione dell'immagine degli elettroni retrodiffusi 8nm (10 kV), risoluzione dell'immagine degli elettroni secondari 8nm (10 kV); tensione di accelerazione: 5 kV-15 kV regolabile in continuo; tempo di vuoto: meno di 15 secondi; intervallo degli elementi di rilevamento: elementi B (5)-Am (95); rivelatore di spettro energetico: rivelatore di deriva al silicio (SDD); metodo di raffreddamento: raffreddamento elettrico senza azoto liquido ad effetto Peltier; risoluzione energetica: <123 eV (Mn Kaα); area attiva del cristallo del rivelatore: 25 mm2
Funzione: È possibile osservare direttamente la morfologia della superficie del campione senza spruzzare oro, senza distruggere la struttura superficiale del campione, e allo stesso tempo ottenere informazioni qualitative e quantitative sugli elementi superficiali del campione.
4. FTIR
Nome inglese: Spettrometro a infrarossi con trasformata di Fourier Modello: Tensor 27 Produttore: Bruker Origine: Germania
Indicatori tecnici: Gamma del numero d'onda: 4000-400 cm-1 Risoluzione: 1 cm-1; rapporto S/N migliore di 32.000:1 (test di 1 minuto); interferometro ROCKSOLID, eccellenti prestazioni sismiche, assenza di manutenzione; può essere combinato con microscopio a infrarossi, perdita di peso termica, gascromatografia, parco vibrazioni a due colori, ecc: OPUS/IR
Funzione: Utilizzato per misurare gli spettri infrarossi di campioni solidi, gassosi e liquidi e i processi di reazione in situ, in modo da ottenere diverse forme di legame e interazioni nel campione e, su questa base, realizzare l'identificazione della composizione del composto, l'analisi della struttura del composto e la chimica del campione Analisi cinetica della reazione.
5. FL
Nome inglese: Spettroscopia di fluorescenza Modello: F7000 Produttore: Hitachi Origine: Giappone
Indicatori tecnici: Intervallo di lunghezze d'onda di eccitazione-emissione: 200-900 nm; Sensibilità: S/N ＞800 (RMS); S/N ＞250 (PP); Viene utilizzato il picco Raman dell'acqua, la lunghezza d'onda di eccitazione è di 350 nm, la larghezza di banda spettrale è di 5 nm, Tempo di risposta 2 s; Risoluzione: 1,0 nm Precisione della lunghezza d'onda: 1 nm; Velocità di scansione della lunghezza d'onda: 30/ 60/ 240/ 1200/ 2400/ 12000/ 30000/ 60000 nm/min.
Funzione: Misura lo spettro di eccitazione della fluorescenza, lo spettro di emissione della fluorescenza, lo spettro tridimensionale, ecc. dei materiali luminescenti. Può anche eseguire test di scansione temporale tridimensionale e test di durata della fluorescenza.
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