Angol elnevezés: Inductively Coupled Plasma-Atomic Emission Spectrometer (induktívan kapcsolt plazma-atomemissziós spektrométer) Modell: 7 Gyártó: Leeman Company Eredet: Egyesült Államok
Technikai mutatók: Stabilitás: ≤1,0%; Ismételhetőség ≤1,0%;
Funkció: A periódusos rendszer 68 elemének minőségi és mennyiségi elemzése. A kvantitatív elemzés 0,01-100 μg/ml (ppm) koncentrációtartományban képes elemezni a mintákat, akár 0,01 ppm pontossággal, és egyidejűleg mintainjekciót is végezhet A mintában lévő több elemet detektálja.
Elv: A mintaoldat elpárolgása és elgázosítása után az elemek mind gázatomok formájában léteznek. Plazma gerjesztés hatására a gáznemű atomok a gerjesztett állapotból visszatérnek az alapállapotba, és sugárzást hoznak létre. Mivel a különböző elemek energiaszintjei eltérőek, saját jellegzetes sugárzási vonalakkal rendelkeznek, ICP A műszer a spektrumban lévő egyes vonalak hullámhosszát és intenzitását méri az elem típusának és koncentrációjának meghatározásához, hogy minőségi és mennyiségi elemzést végezzen.
2. XRD
Angol név: X-Ray Powder Diffractometer (röntgenpor-diffraktométer) Modell: D2 PHASER Gyártó: Bruker Eredet: Németország
Technikai mutatók: Theta / Theta függőleges goniométer; 2Theta szögtartomány: -3~160°; A minimális lépésszög 0,002; Nincs szükség fényre; Cr/Co/Cu céltárgy, szabványos méretű fénycső; Nincs szükség külső számítógépre, a műszer vezérlő és adatgyűjtő rendszer integrált kialakítása; Nincs szükség külső vízhűtésre; Nincs szükség előzetes kalibrálásra; Generátor teljesítmény 300W, hálózati feszültség 90-250V, 50-60Hz, plug and play.
Funkció: A diffrakciós csúcs helyzete és a félmagasság szélessége alapján határozza meg a por kristályszerkezetét és szemcseméretét. A szabványos kártyatárral való összehasonlítással az ismeretlen minta szerkezetére és összetételére lehet következtetni, és a fáziselemzés pontosan elvégezhető. Minőségi elemzés, mennyiségi elemzés.
Elv: A kristályos anyagok esetében, ha a mérendő kristály a beeső röntgensugárral különböző szögben áll, akkor a Bragg-diffrakcióval találkozó kristálysík lesz detektálható. Ez az XRD-spektrumban eltérő diffrakciós intenzitású diffrakciós csúcsokként jelenik meg. A mért A diffrakciós csúcsok alapján lehet következtetni a kristályok szerkezetére. Ugyanakkor a különböző elemekből álló kristályok kristálysíkjai közötti különbség miatt a diffrakciós csúcsok helyzete is eltérő. Az egymáshoz illeszkedő elemek detektálási eszközei összehasonlíthatók ismert kristályokkal. Az amorf anyagok esetében, mivel a kristályszerkezetben nincs hosszú távú rendezettség, hanem néhány atom rövid távú rendezettsége, az XRD-mintázatban néhány diffúz szórású csúcs jelenik meg.
3. SEM+EDX
Angol név: Electron Microscope Modell: Pro X Gyártó: PHENOM Eredet: Hollandia
Technikai mutatók: Elektronmikroszkóp: optikai mikroszkóp: 20-135-szörös nagyítás; elektronmikroszkóp: Elektronelektronmikroszkóp: 150 000-szeres; detektor: Nagy érzékenységű négy szekciós visszaszórt elektron detektor; Szál anyag: (10 kV) , szekunder elektron képfelbontása 8 nm (10 kV); gyorsítófeszültség: 5 kV-15 kV folyamatosan állítható; vákuumidő: kevesebb mint 15 másodperc; detektáló elem tartománya: (5)-Am (95) elemek; Energiaspektrum detektor: szilícium drift detektor (SDD); hűtési módszer: nem folyékony nitrogén Peltier hatású elektromos hűtés; energiafelbontás: (Mn Kaα); detektorkristály aktív területe: <123 eV (Mn Kaα): 25 mm2
Funkció: A minta felületének morfológiáját közvetlenül megfigyelheti aranyszórás nélkül, a minta felületi szerkezetének elpusztítása nélkül, és ugyanakkor minőségi és mennyiségi információkat kaphat a minta felületi elemeiről.
4. FTIR
Angol név: Fourier Transform Infrared Spectrometer (Fourier-transzformációs infravörös spektrométer) Modell: Tensor 27 Gyártó: Bruker Eredet: Németország
Funkció: A szilárd, gáz és folyékony minták infravörös spektrumának mérésére és a helyszíni reakciófolyamatok mérésére szolgál, hogy a mintában különböző kötésformákat és kölcsönhatásokat kapjunk, és ez alapján megvalósítsuk a vegyület összetételének azonosítását, a vegyület szerkezetének elemzését és a minta kémiai tulajdonságait.
5. FL
Angol neve: Fluoreszcencia spektroszkópia Modell: F7000 Gyártó: Hitachi Eredet: Japán
Funkció: Lumineszcens anyagok fluoreszcencia gerjesztési spektrumának, fluoreszcencia emissziós spektrumának, háromdimenziós spektrumának stb. mérése. Háromdimenziós időszkennelési vizsgálatot és fluoreszcencia élettartam vizsgálatot is végezhet.
Lépjen kapcsolatba velünk most!
Elfogadjuk az egyedi szolgáltatásokat, általában 24 órán belül felvesszük Önnel a kapcsolatot. A munkaidőben ( 8:30-18:00 UTC+8 H.~Szombat ) az info@longchangchemical.com e-mail címen is küldhet e-mailt, vagy használhatja a weboldal élő chatjét, hogy gyors választ kapjon.
Ezt a cikket a Longchang Chemical R&D Department írta. Ha másolni és újranyomtatni szeretné, kérjük, adja meg a forrást.
