1.ICP
英文名称： Inductively Coupled Plasma-Atomic Emission Spectrometer（电感耦合等离子体-原子发射光谱仪
型号Prodigy 7
制造商：利曼公司利曼公司
原产地：美国美国
技术指标：光学分辨率：≤0.007nm（200 nm 处）；稳定性：≤1.0%；重复性≤1.0%；
检测限：μg/L~μg/mL 波长范围：165nm-1100nm；仪器类型：全光谱直读；检测器：CMOS 固态检测器。
功能：对元素周期表中的 68 种元素进行定性和定量分析。定量分析可分析浓度范围为 0.01-100 μg/mL（ppm）的样品，精度可达 0.01 ppm，并可同时进行样品进样，检测样品中的多种元素。
原理样品溶液蒸发气化后，所有元素都以气态原子的形式存在。在等离子体的激发下，气态原子从激发态返回基态，产生辐射。由于不同元素的能级不同，它们有各自的特征辐射线，ICP 仪器通过测量光谱中每条辐射线的波长和强度来确定元素的种类和浓度，从而进行定性和定量分析。
2.XRD
英文名称：X-射线粉末衍射仪
型号D2 PHASER
制造商：布鲁克公司布鲁克
原产地：德国德国
技术指标：Theta / Theta 垂直测角仪；
2Theta 角范围：-3~160°；
最小步距角为 0.002；
无需光源；Cr/Co/Cu 靶件，标准尺寸灯管；
无需外部计算机，仪器控制和数据采集系统一体化设计；
无需外部水冷；
无需预先校准；
发电机功率 300W，电源电压 90-250V，50-60Hz，即插即用。
功能：利用衍射原理，根据衍射峰的位置和半高宽度确定粉末的晶体结构和晶粒大小。通过与标准卡库对比，可以推断未知样品的结构和组成，准确进行相分析。定性分析、定量分析。
原理对于晶体材料，当被测晶体与入射 X 射线成不同角度时，将检测到与布拉格衍射相交的晶面。它在 XRD 光谱中反映为不同衍射强度的衍射峰。根据测得的衍射峰可以推断出晶体的结构。同时，由于不同元素组成的晶体的晶面不同，衍射峰的位置也不同。匹配元素的检测手段可与已知晶体进行比较。对于非晶态材料，由于晶体结构中不存在长程有序，而是在少数原子中存在短程有序，因此 XRD 图样中会出现一些漫散射峰。
3.SEM+EDX
英文名称：Electron Microscope
型号Pro X
制造商： PHENOMPHENOM
原产地：荷兰荷兰
技术指标：光学显微镜：放大 20-135 倍；电子显微镜：15 万倍；探测器：高灵敏度四截面背散射电子探测器；灯丝材料：1,500 小时 CeB6 灯丝；背散射电子图像分辨率 8nm (10 kV) ，二次电子图像分辨率 8nm (10 kV)；加速电压：5 kV-15 kV 连续可调；抽真空时间：小于 15 秒；检测元件范围：能谱检测器：硅漂移检测器（SDD）；冷却方式：无液氮珀尔帖效应电冷却；能量分辨率：<123 eV (Mn Kaα)；探测器晶体有效面积：25 mm2
功能：无需喷金即可直接观察样品表面的形态，不会破坏样品的表面结构，同时还能获得样品表面元素的定性和定量信息。
4.傅立叶变换红外光谱
英文名称： Fourier Transform Infrared Spectrometer（傅立叶变换红外光谱仪
型号张量 27
制造商：布鲁克公司布鲁克
原产地：德国德国
技术指标：波数范围：分辨率：4000-400 cm-11 cm-1；信噪比优于 32000:1（1 分钟测试）；ROCKSOLID 干涉仪，地震性能优异，免维护；可与红外显微镜、热失重仪、气相色谱仪、双色振动公园等结合使用；操作系统：OPUS/IR
功能用于测量固体、气体和液体样品及原位反应过程的红外光谱，从而获得样品中不同的键形式和相互作用，并在此基础上实现样品的化合物成分鉴定、化合物结构分析和样品化学反应动力学分析。
5.FL
