Nom anglais : Inductively Coupled Plasma-Atomic Emission Spectrometer (Spectromètre d'émission atomique à plasma inductif) Modèle : Prodigy 7 Fabricant : Leeman Company Origine : États-Unis
Limite de détection : μg/L~μg/mL Plage de longueur d'onde : 165nm-1100nm ; Type d'instrument : lecture directe à spectre complet ; Détecteur : Détecteur à semi-conducteurs CMOS.
Fonction : Analyser qualitativement et quantitativement 68 éléments du tableau périodique. L'analyse quantitative peut analyser des échantillons dans la plage de concentration de 0,01 à 100 μg/mL (ppm), avec une précision allant jusqu'à 0,01 ppm, et peut simultanément effectuer une injection d'échantillon Plusieurs éléments dans l'échantillon sont détectés.
Principe : Après l'évaporation et la gazéification de la solution de l'échantillon, les éléments existent tous sous la forme d'atomes gazeux. Sous l'excitation du plasma, les atomes gazeux retournent de l'état excité à l'état fondamental pour générer un rayonnement. L'instrument mesure la longueur d'onde et l'intensité de chaque ligne du spectre pour déterminer le type et la concentration de l'élément, afin d'effectuer une analyse qualitative et quantitative.
2. XRD
Nom anglais : X-Ray Powder Diffractometer (diffractomètre à rayons X pour poudres) Modèle : D2 PHASER Fabricant : Bruker Origine : Allemagne
Indicateurs techniques : Goniomètre vertical Theta / Theta ; 2Plage de l'angle thêta : -3~160° ; L'angle de marche minimal est de 0,002 ; Pas besoin de lumière ; cible Cr/Co/Cu, tube lumineux de taille standard ; Pas besoin d'ordinateur externe, conception intégrée du système de contrôle des instruments et d'acquisition des données ; Aucun refroidissement externe par eau n'est nécessaire ; Aucun étalonnage préalable n'est nécessaire ; Puissance du générateur 300W, tension d'alimentation 90-250V, 50-60Hz, plug and play.
Fonction : Utiliser le principe de la diffraction pour déterminer la structure cristalline et la taille des grains de la poudre en fonction de la position du pic de diffraction et de la largeur à mi-hauteur. La comparaison avec la bibliothèque de cartes standard permet de déduire la structure et la composition de l'échantillon inconnu et d'effectuer une analyse de phase précise. Analyse qualitative, analyse quantitative.
Principe : Pour les matériaux cristallins, lorsque le cristal à mesurer présente un angle différent par rapport au rayon X incident, le plan cristallin qui rencontre la diffraction de Bragg sera détecté. Il se reflète dans le spectre XRD sous la forme de pics de diffraction d'intensités différentes. Les pics de diffraction peuvent être utilisés pour déduire la structure des cristaux. Dans le même temps, les positions des pics de diffraction sont également différentes en raison de la différence entre les plans cristallins des cristaux composés d'éléments différents. Les moyens de détection des éléments correspondants peuvent être comparés à des cristaux connus. Pour les matériaux amorphes, parce qu'il n'y a pas d'ordre à longue portée dans la structure cristalline, mais un ordre à courte portée dans quelques atomes, le diagramme XRD présente des pics de diffusion diffuse.
3. SEM+EDX
Nom anglais : Electron Microscope Modèle : Pro X Fabricant : PHENOM Origine : Pays-Bas
Indicateurs techniques : Microscope optique : grossissement 20-135 fois ; Microscope électronique : 150 000 fois ; Détecteur : Détecteur d'électrons rétrodiffusés haute sensibilité à quatre sections ; Matériau du filament : 1 500 heures de filament CeB6 ; résolution de l'image des électrons rétrodiffusés 8 nm (10 kV), résolution de l'image des électrons secondaires 8 nm (10 kV) ; tension d'accélération : 5 kV-15 kV réglable en continu ; temps de vide : moins de 15 secondes ; plage de l'élément de détection : B (5)-Am (95) éléments ; détecteur de spectre énergétique : détecteur de dérive au silicium (SDD) ; méthode de refroidissement : pas de refroidissement électrique par effet Peltier à l'azote liquide ; résolution énergétique : <123 eV (Mn Kaα) ; surface active du cristal du détecteur : 25 mm2
Fonction : Vous pouvez observer directement la morphologie de la surface de l'échantillon sans pulvérisation d'or, sans détruire la structure de la surface de l'échantillon, et obtenir en même temps des informations qualitatives et quantitatives sur les éléments de surface de l'échantillon.
4. FTIR
Nom anglais : Fourier Transform Infrared Spectrometer (Spectromètre infrarouge à transformée de Fourier) Modèle : Tenseur 27 Fabricant : Bruker Origine : Allemagne
Indicateurs techniques : Gamme du nombre d'ondes : 4000-400 cm-1 Résolution : 1 cm-1 ; rapport S/B meilleur que 32 000:1 (test de 1 minute) ; interféromètre ROCKSOLID, excellente performance sismique, sans entretien ; peut être combiné avec un microscope infrarouge, la perte de poids thermique, la chromatographie en phase gazeuse, le parc à vibrations bicolore, etc : OPUS/IR
Fonction : Utilisé pour mesurer les spectres infrarouges d'échantillons solides, gazeux et liquides et les processus de réaction in situ, afin d'obtenir différentes formes de liaisons et d'interactions dans l'échantillon, et sur cette base, réaliser l'identification de la composition du composé, l'analyse de la structure du composé et la chimie de l'échantillon Analyse cinétique de la réaction.
5. FL
Nom anglais : Fluorescence Spectroscopy Modèle : F7000 Fabricant : Hitachi Origine : Japon Japon
Indicateurs techniques : Gamme de longueurs d'onde d'excitation et d'émission : 200-900 nm ; Sensibilité : S/N ＞800 (RMS) ; S/N ＞250 (PP) ; le pic Raman de l'eau est utilisé, la longueur d'onde d'excitation est de 350 nm, la largeur de bande spectrale est de 5 nm, le temps de réponse est de 2 s ; Résolution : 1,0 nm Précision de la longueur d'onde : 1 nm ; Vitesse de balayage de la longueur d'onde : 30/ 60/ 240/ 1200/ 2400/ 12000/ 30000/ 60000 nm/min
Fonction : Mesurer le spectre d'excitation de fluorescence, le spectre d'émission de fluorescence, le spectre tridimensionnel, etc. des matériaux luminescents. Il peut également effectuer un test de balayage temporel tridimensionnel et un test de durée de vie de la fluorescence.
Contactez-nous dès maintenant !
Nous acceptons les services personnalisés et nous vous contacterons généralement dans les 24 heures. Vous pouvez également m'envoyer un courriel à l'adresse info@longchangchemical.com pendant les heures de travail (de 8h30 à 18h00 UTC+8 du lundi au samedi) ou utiliser le chat en direct du site web pour obtenir une réponse rapide.
Cet article a été rédigé par Longchang Chemical R&D Department. Si vous souhaitez le copier ou le réimprimer, veuillez en indiquer la source.
