Funktion: Analysieren Sie die qualitative und quantitative Analyse von 68 Elementen im Periodensystem. Die quantitative Analyse kann Proben im Konzentrationsbereich von 0,01-100 μg/ml (ppm) mit einer Genauigkeit von bis zu 0,01 ppm analysieren und kann gleichzeitig eine Probeninjektion durchführen Mehrere Elemente in der Probe werden erkannt.
Das Prinzip: Nachdem die Probenlösung verdampft und vergast ist, liegen die Elemente alle in Form von gasförmigen Atomen vor. Unter Plasmaanregung kehren die gasförmigen Atome vom angeregten Zustand in den Grundzustand zurück und erzeugen Strahlung. Da die Energieniveaus der verschiedenen Elemente unterschiedlich sind, haben sie ihre eigenen charakteristischen Strahlungslinien. Das ICP-Gerät misst die Wellenlänge und die Intensität jeder Linie im Spektrum, um die Art und die Konzentration des Elements zu bestimmen und so eine qualitative und quantitative Analyse durchzuführen.
2. XRD
Englischer Name: X-Ray Powder Diffractometer Modell: D2 PHASER Hersteller: Bruker Herkunft: Deutschland
Technische Indikatoren: Theta / Theta Vertikalgoniometer; 2Theta-Winkelbereich: -3~160°; Der minimale Schrittwinkel beträgt 0,002; Kein Licht erforderlich; Cr/Co/Cu-Target, Lichtröhre in Standardgröße; Kein externer Computer erforderlich, integrierter Aufbau von Gerätesteuerung und Datenerfassungssystem; Keine externe Wasserkühlung erforderlich; Keine Vorkalibrierung erforderlich; Generatorleistung 300W, Versorgungsspannung 90-250V, 50-60Hz, plug and play.
Funktion: Nutzung des Beugungsprinzips zur Bestimmung der Kristallstruktur und Korngröße des Pulvers anhand der Position des Beugungspeaks und der Halbwertsbreite. Durch den Vergleich mit der Standardkartenbibliothek kann auf die Struktur und Zusammensetzung der unbekannten Probe geschlossen werden, und die Phasenanalyse kann genau durchgeführt werden. Qualitative Analyse, quantitative Analyse.
Das Prinzip: Wenn bei kristallinen Materialien der zu messende Kristall in einem anderen Winkel zur einfallenden Röntgenstrahlung steht, wird die Kristallebene, die auf die Bragg-Beugung trifft, erkannt. Sie spiegelt sich im XRD-Spektrum als Beugungspeaks mit unterschiedlichen Beugungsintensitäten wider. Anhand der gemessenen Beugungsspitzen kann auf die Struktur der Kristalle geschlossen werden. Gleichzeitig sind die Positionen der Beugungsspitzen aufgrund der unterschiedlichen Kristallebenen von Kristallen, die aus verschiedenen Elementen bestehen, unterschiedlich. Die Nachweismethoden für passende Elemente können mit bekannten Kristallen verglichen werden. Bei amorphen Materialien zeigt das XRD-Muster einige diffuse Streuungspeaks, da die Kristallstruktur keine langreichweitige Ordnung aufweist, sondern eine kurzreichweitige Ordnung in einigen Atomen.
3. SEM+EDX
Englischer Name: Elektronenmikroskop Modell: Pro X Hersteller: PHENOM Herkunft: Niederlande
Technische Indikatoren: Optisches Mikroskop: 20-135-fache Vergrößerung; Elektronenmikroskop: 150.000-fach; Detektor: Hochempfindlicher Detektor für rückgestreute Elektronen mit vier Abschnitten; Filamentmaterial: 1.500 Stunden CeB6-Filament; Auflösung des Rückstreuelektronenbildes 8nm (10 kV), Auflösung des Sekundärelektronenbildes 8nm (10 kV); Beschleunigungsspannung: 5 kV-15 kV stufenlos einstellbar; Vakuumzeit: weniger als 15 Sekunden; Bereich der Nachweiselemente: B (5)-Am (95) Elemente; Energiespektrum-Detektor: Silizium-Drift-Detektor (SDD); Kühlmethode: kein flüssiger Stickstoff; elektrische Kühlung mit Peltier-Effekt; Energieauflösung: <123 eV (Mn Kaα); aktive Fläche des Detektorkristalls: 25 mm2
Funktion: Sie können die Morphologie der Probenoberfläche direkt beobachten, ohne Gold aufzusprühen, ohne die Oberflächenstruktur der Probe zu zerstören, und erhalten gleichzeitig qualitative und quantitative Informationen über die Oberflächenelemente der Probe.
4. FTIR
Englischer Name: Fourier-Transform-Infrarot-Spektrometer Modell: Tensor 27 Hersteller: Bruker Herkunft: Deutschland
Technische Indikatoren: Wellenzahlbereich: 4000-400 cm-1 Auflösung: 1 cm-1; S/N-Verhältnis ist besser als 32.000:1 (1-Minuten-Test); ROCKSOLID-Interferometer, hervorragende seismische Leistung, wartungsfrei; kann mit Infrarot-Mikroskop kombiniert werden, thermische Gewichtsverlust, Gaschromatographie, Zwei-Farben-Vibrationspark, etc.; Betriebssystem: OPUS/IR
Funktion: Messung der Infrarotspektren fester, gasförmiger und flüssiger Proben sowie von In-situ-Reaktionsprozessen, um verschiedene Bindungsformen und Wechselwirkungen in der Probe zu ermitteln und auf dieser Grundlage die Identifizierung der Zusammensetzung der Verbindung, die Analyse der Struktur der Verbindung und die chemische Analyse der Probe durchzuführen Reaktionskinetische Analyse.
5. FL
Englischer Name: Fluoreszenzspektroskopie Modell: F7000 Hersteller: Hitachi Herkunft: Japan
Technische Daten: Anregungs-Emissions-Wellenlängenbereich: 200-900 nm; Empfindlichkeit: S/N ＞800 (RMS); S/N ＞250 (PP); Raman-Peak von Wasser wird verwendet, Anregungswellenlänge ist 350 nm, spektrale Bandbreite ist 5 nm, Reaktionszeit 2 s; Auflösung: 1,0 nm Wellenlängengenauigkeit: 1 nm; Wellenlängen-Scan-Geschwindigkeit: 30/ 60/ 240/ 1200/ 2400/ 12000/ 30000/ 60000 nm/min
Funktion: Messung des Fluoreszenzanregungsspektrums, des Fluoreszenzemissionsspektrums, des dreidimensionalen Spektrums usw. von lumineszierenden Materialien. Es kann auch dreidimensionale Zeit-Scan-Test und Fluoreszenz Lebensdauer Test durchführen.
Kontaktieren Sie uns jetzt!
Wir akzeptieren kundenspezifische Dienstleistungen, wir werden Sie in der Regel innerhalb von 24 Stunden kontaktieren. Sie können auch eine E-Mail an info@longchangchemical.com während der Arbeitszeiten (8:30 bis 18:00 Uhr UTC+8 Mo.~Sa.) senden oder den Live-Chat der Website nutzen, um eine schnelle Antwort zu erhalten.
Dieser Artikel wurde von der Forschungs- und Entwicklungsabteilung von Longchang Chemical verfasst. Wenn Sie ihn kopieren und nachdrucken möchten, geben Sie bitte die Quelle an
